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涂层测厚仪能否测量单一物体厚度

发布时间:2019-07-15 08:46
       我们知道涂层测厚仪主要是用于测量物体表面涂层的厚度的,这种表面涂层是紧密吸附在物体表面的,两者之间不存在空气。在进行物体表面涂层的厚度时,涂层和物体表面的粗糙度都影响着涂层厚度测量的值,所以我们在测量涂层厚度时,要求物体和涂层表面都是平滑的。如果有一定的粗糙度,那么对于这个涂层的厚度测量时,我们需要进行多次测量,以尽可能的降低测量出现的偏差。对于涂层测厚仪的测量过程,有人会大发奇想,涂层测厚仪能否测量单一物体的厚度呢?
 
涂层测厚仪产品
涂层测厚仪产品
 
       其实,就涂层测厚仪测量单一物体的厚度来说是可以实现的。即将这种单一物体放置某种Fe基物体表面,这两种物体表面事先需要进行一定的处理,清除污物后使用夹具将单一物体与Fe物体表面夹紧。如此,便相当于这种单一物体成为了“涂层”。磁性法涂层测厚仪工作原理是,磁性法(F型测头)当测头与覆盖层接触时,测头和磁性金属基体会构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量磁阻变化可计算出覆盖层的厚度。涡流法(N型测头)就是利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上会产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小即可导出覆盖层的厚度。所以,从理论上来说,就算是单一物体表面与基体之间存在间隙、有空气层,也不影响涂层测厚仪的工作,只是精度会有一些影响。
 
       但是使用涂层测厚仪测量单一物体厚度时,对基体和单一物体或者是仪器来说都是有一定要求的。如果使用磁性法涂层测厚仪进行测量,此时的覆盖层即单一物体应该为非磁性覆盖层,若同是磁性物体那么测量会失败。如果使用涡流法涂层测厚仪进行测量时,此时的覆盖层即单一物体应该为任意绝缘涂层厚度,即“涂层”表面不会产生电涡流。除上述的两个要求以外,还有两个硬性要求,第一,这种被测量的单一物体上下表面均为平行且较为平滑的物体;第二,这种单一物体的最大厚度不能超过涂层测厚仪的测量范围1250μm,考虑到可能会存在间隙,还要再薄一点。且如果是磁性测厚法最小厚度应该为200μm,非磁性的为50μm以上才能够测量出来。
 
       总结:使用涂层测厚仪是可以测量单一物体的厚度的,但这种情况测量时测量过程较为复杂,且容易出现较大的偏差,而且还有着有使用限制。与其使用涂层测厚仪对单一物体厚度进行测量,还不如直接使用游标卡尺或者是测厚规、千分尺之类的机械式测量仪器对其进行测量。因为我们在实际测量过程中,效率也是重要的影响因素,不能南辕北辙。

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